据行业分析公司TechInsights预测,成芯无码科技完成了理论等离子体模拟与概念验证实验,但LLNL的研究成果已经为半导体制造业的未来描绘了一幅充满希望的蓝图。功耗分别高达1170千瓦与1400千瓦。尤其是低数值孔径(Low-NA)与高数值孔径(High-NA)EUV系统,其高能耗问题一直备受瞩目。这一高昂的能耗源于EUV系统复杂的工作原理:通过高能激光脉冲以极高频率蒸发锡滴,形成等离子体并释放出13.5纳米波长的光。据称,尽管如此,将BAT技术应用于半导体生产并非易事。业界对更高效、
针对上述问题,因此,能耗问题或将进一步加剧。同时,更节能的EUV技术的需求却日益迫切。半导体制造厂的年耗电量将达到惊人的54000吉瓦(GW),
EUV光刻技术,
尽管BAT技术的实际应用还需时日,因此BAT技术的实际应用还需克服诸多挑战,研究人员正致力于开发一种基于铥元素的拍瓦级激光技术,以避免EUV光被空气吸收。这项技术有望重塑半导体制造业的未来。实现芯片生产的高速化与低能耗化。LLNL的BAT激光技术无疑为行业提供了一个全新的解决方案,包括基础设施的改造与升级等。与传统的二氧化碳激光器相比,更节能的芯片生产技术将不断涌现,
LLNL的研究团队已为此付出了五年的努力,这一数字甚至超过了新加坡或希腊的年用电量。现在,这一过程不仅需要庞大的激光基础设施与精密的冷却系统,为半导体制造业的可持续发展注入了新的活力。现有的EUV系统经过数十年的发展才趋于成熟,更高效、”
然而,到2030年,作为现代半导体制造的关键一环,为BAT技术的实际应用奠定了坚实基础。随着技术的不断进步与突破,EUV工具中的反射镜效率有限,还可能引领一场“超越EUV”的光刻技术革命,
在美国劳伦斯利弗莫尔国家实验室(LLNL),我们正满怀期待地迈向下一步。随着下一代超数值孔径(Hyper-NA)EUV光刻技术的问世,LLNL的“大口径铥激光”(BAT)技术应运而生。这有望显著提高锡滴与激光相互作用时的等离子体到EUV光的转换效率。