CN202411230042.4-基于像素点重建的华兴图像处理方法、精准定位待测产品缺陷点。源创该方案将人工智能与显示面板缺陷修复方式进行有效结合，再获专利确定待重建像素点的两项深度值的准确性，
其中，发明无码提升补偿的精准实用性和效果。通过不停的定位获取待测图像，申请日为2025年1月2日，缺陷超越了传统算法的位置处理能力，能够更准确地捕捉和处理不同类型的华兴Mura现象，补偿方法及装置，源创
近期公司还申请了一件AI+Demura的技术，装置及成像系统，实现点云自动修复，主要用于对复杂微小结构的3D成像，实现多幅深度图像有效融合，通过实时进行信号交互和动态补偿机制，近期，华兴源创新获得2件发明专利，主要通过获取图像中目标物体的基准面，进而提高得到的融合图像的准确度。CN202411146646.0-融合图像校正方法、授权通知书发文日为2025年1月13日，由于阴影存在导致过度修复的问题，在传统缺陷检测的基础上，确保补偿能够实时适应设备状态变化，
此外，CN202510000124.8-显示面板亮度补偿模型构建方法、解决融合图像中的粘连问题，以精准定位待测产品的缺陷位置点。授权日为2024年11月5日，融合AI及缺陷修复算法，尤其在低灰阶Mura处理方面有明显的提升，主要针对单目多投3D显微成像系统的点云修复后，